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Graticules Eyepiece Reticles目镜刻度线(垂直水平)，利用微微动载物台之移动，配全目镜之十字座标线，作长度量测。
Graticules Eyepiece Reticles目镜刻度线(十字线)，利用微微动载物台之移动，配全目镜之十字座标线，作长度量测。
Graticules Walton Beckett，利用微微动载物台之移动，配全目镜之十字座标线，作长度量测。
Graticules Stage Micrometers测微尺(透射光)，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
Graticules Stage Micrometers测微尺(反射光)，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
Graticules Stage Micrometers测微尺(双刻度)，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
Graticules Scale校准刻度，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
Graticules Calibration Grid校准网格，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
Graticules Calibration Slide硬度计校准载玻片，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
Graticules Counting Grid计数网格，高分辨率校准产品，用于校准显微镜、成像系统、坐标测量设备和计量仪器。
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